|
|
- Соответствуют ли Ваши продукты правилам содержания вредоносных веществ(RoHS)?
- Вы получили то количество золота, за которое заплатили?
- Ваша технология надежна и экономически выгодна?
Если у Вас нет ответа на один из этих вопросов - FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SD Ваш правильный выбор!
|
|
|
|
RoHS / WEEE
- Надежно измеряет Pb, Hg, Cd, Br и Cr. Доступные пределы измерения 2 ppm дляPb, и 10 ppm для Cd в пластиках.
- Предельные значения в соответствии с RoHS / WEEE в 1000 ppm (Pb) 100 ppm (Cd) могут быть надежно определены.
- Пластиковые образцы могут проанализированы вне зависимости от их толщины.
- Каждый электронный компонент или печатная плата могут быть проанализированы с высокой точностью.
- XY(Z)- измерительная платформа позволяет проводить измерения в автоматическом режиме.
|
|
|
|
ПО WinFTM® V.6 BASIC
- Получение до 24 характеристик (толщина слоев, компонентный состав) за одно ищмерения.
- Возможность измерения очень тонких покрытий толщиной от 10 нм.
- Как правило, комплексные многослойные покрытия могут быть исследованы без использования эталонов (без калибровки) с высокой точностью.
- Точность измерения может быть максимально улучшена использованием до 64 эталонов в одном приложении.
- Также это гарантирует прослеживаемость результатов измерений.
- ПО WinFTM® V.6 позволяет получать очень точные результаты при анализе материалов с концентрацией от нескольких ppm до 100 %.
|
|
