FISCHERSCOPE X-RAY XDVM®-µ (SD)
|
Новое измерительное устройство FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ -это надежная система, предназначенная для измерений и анализа микроструктуры покрытий посредством рентгенофлюоресцентного метода и уникальной микрофокусной рентгеновской оптики. Эта система позволяет решать самые сложные измерительные задачи, которые могут возникать при тестировании миниатюрных электронных изделий, в том числе, печатных плат, микросхем, контактных соединений. Применяемая в системе уникальная разработка рентгеновской оптики позволяет формировать очень малую область измерения с высокой интенсивностью облучения, что дает возможность производить измерения на структурах с размерами в несколько десятков микрон. Рентгеновская оптика компании "Хельмут Фишер", будучи намного экономичнее многокапиллярных линз, позволяет производить измерение толщин и композиционный анализ сложных систем покрытий на очень тонких структурах. С помощью измерительного устройства XDVM-µ можно производить измерения таких структур, котрые не поддаются измерению с помощью обычных рентгеновских толщиномеров вследствие низкой интенсивности рентгеновкой флюоресценции. Благодаря интеграции указанных технических возможностей с программным продуктом Software WinFTM® V6 измерительное устройство FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ может быть использовано для тестирования толщин и композиционного состава многослойных покрытий, включающих до 24 различных элементов, так же как и моноэлементных покрытий или покрытий, состоящих из сплавов. |
