FISCHERSCOPE X-RAY XDL®-B
|
Измерительное устройство FISCHERSCOPE® XDL®-B -это рентгеновская измерительная система, базирующаяся на программном продукте Windows™ и предназначенная для измерения толщины покрытий и элементного анализа состава материалов. Направление измерения: сверху вниз. В устройстве XDL®-B используется уникальная методика дистанционной корректировки измерения. DCM - метод (Distance Controlled Measurement) обеспечивает автоматическую корректировку интенсивности флюоресцентного спектра в зависимости от расстояния до измеряемого участка. При использовании системы XDL®-B с фиксированным расположением рентгеновской головки этот метод позволяет довольно просто производить измерения на любых участках образцов со сложной геометрической формой. Информацию о различных версиях этой измерительной системы смотрите в разделе "Технические характеристики". |
