FISCHERSCOPE® X–RAY XDAL

Преимуществом этого спектрометра является большая высокоточная XYZ измерительная платформа в сочетании с полупроводниковым детектором. Его высокое энергетическое разрешение обеспечивает надежные результаты анализа и измерения толщины покрытий за короткое время измерений. Благодаря направлению измерений сверху вниз, поверхности даже больших образцов могут быть просканированы и измерены.

Автоматическая оптическая фокусировка повышает степень воспроизводимости измерений.

FISCHERSCOPE® X–RAY XAN

Высокоэффективный спектрометр по примечательно низким ценам. Благодаря высокому энергетическому разрешению полупроводникового детектора, XAN® обеспечивает надежные результаты анализа и измерения толщины покрытий за короткое время измерений.

Благодаря конструктивному принципу "направление измерений – снизу вверх", образцы быстро и легко позиционируются. Четыре коллиматора с автоматическим приводом позволяют работать с оптимальным для измерений измеряемым пятном.

FISCHERSCOPE® X–RAY XDVM–μ

Когда задача заключается в измерении тончайших поверхностных структур на миниатюрных компонентах или печатных платах, решением является прибор XDVM-μ. Благодаря использованию оригинального  запатентованного оптического отражателя рентгеновских лучей, этот прибор может генерировать лучи с очень малым измерительным пятном и высокой интенсивностью излучения. Таким образом, становятся возможными измерения структур шириной всего в несколько десятков микрон.

FISCHERSCOPE® X–RAY XDV–SD

XDV-SD упрощает применение рентгенофлюоресцентного метода и делает его очень гибким. Сверхвысокоточная XYZ измерительная платформа с большим диапазоном перемещений делает возможными автоматические измерения тончайших структур.

Прибор идеально подходит для (серийных) измерений, контактных дорожек, печатных плат, анализа электролитов.

FISCHERSCOPE® X–RAY XDL–XDLM

Практичный, удобный для пользователя измерительный прибор особо экономичного дизайна. Большая измерительная камера позволяет проводить измерения крупных образцов с неправильными очертаниями поверхностей.

Метод оптически регулируемой корректировки расстояния делает возможным автоматическое тестирование образцов сложной конфигурации.

FISCHERSCOPE® X–RAY XUV

Новейшая разработка компании Helmut Fischer – рентгенофлуоресцентный спектрометр с вакуумной камерой. Позволяет анализировать элементы от Z=11 (Na) до Z=92 (U).

Программируемая измерительная платформа, видеокамера и подсветка места измерения существенно упрощают работу с прибором.