Рентгенофлуоресцентные спектрометры - толщиномеры
Helmut Fischer более 50 лет разрабатывает и обеспечивает технологии экстра-класса для определения толщины покрытий, анализа состава материалов и общего тестирования свойств материалов. Продукты линии FISCHERSCOPE X-RAY уже более 25 лет являются технологическими лидерами на рынке. Постоянное совершенствование технических характеристик, закрепленное многочисленными патентами, и улучшение потребительских свойств, позволяют оборудованию FISCHERSCOPE X-RAY всегда быть на шаг впереди.
 |
FISCHERSCOPE X-RAY
Это использование метода энергодисперсионной рентгеновской флуорисценции, соответствующий стандартам ASTM B 568/ISO 3497;
Это высокоточные измерения толщины покрытий в диапазоне 100 нм до 35 мкм;
Это анализ состава материалов от Z=11 (Na) до Z=92 (U);
Это более 20 моделей оборудования – от недорогих стандартных приборов до сложных профессиональных измерительных систем;
Это простое и надежное программное обеспечение WinFTM;
Это профессиональный сервис, основанный на знаниях и практическом опыте.
Модельный ряд FISCHERSCOPE X-RAY >>>
Принцип работы рентгенофлуоресцентного спектрометра-толщиномера >>>
Области применения:
-
Измерение проводников и контактных площадок на печатных платах;
-
Измерение толщин покрытий на выводах электронных компонентов;
-
Утилизация электронных компонентов (RoHS и WEEE);
-
Анализ электролитов;
-
Анализ элементов солнечных батарей;
- Анализ гальванических и химических покрытий.
Программное обеспечение:
WinFTM – Fischer Thickness Measurement System for Windows – программное обеспечение самого последнего поколения. Программа обеспечивает высокую степень гибкости и предусматривает свободный выбор режимов при определении способа проведения измерений.
Аккумулируя сложнейшие математические алгоритмы и разносторонний опыт физических исследований, программа может производить оценку многослойных покрытий.
Поставляется в следующих вариантах:
WinFTM V.6 Light – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 3 слоев или элементов.
WinFTM V.6 Basic – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 24 слоев или элементов.
Функции WinFTM® V.6
-
Определение толщины покрытий и анализ состава материалов, в одном продукте одновременно
-
Свободные измерения и анализ
-
Максимальное количество отдельных признаков у образца - 24
-
Отдельные слои могут содержать до 24 элементов
-
Анализ до 24 слоев в одном составном покрытии
-
Повторение отдельных элементов в различных слоях
-
Количественный анализ состава сплавов, составные покрытия до 24 элементов
-
Анализ «внутренних» покрытий и материалов подложек
-
Измерения, не зависящие от материала подложки
-
Прямой анализ, составные покрытия до 24 элементов
-
Отображение значения качества измерений («measurement quality»)
-
Программируемая последовательность измерений («Tasks»)
-
Три режима отображения измерений
-
Стандартная калибровка
-
Идентификация материалов с использованием сравнения спектров
-
Библиотека спектров чистых элементов
-
Графическое представление точки измерения и XY(Z)навигация
-
Установка новых режимов проведения измерений (файл установочных параметров)
-
Анализ растворов как отдельная функция при задании режимов проведения измерений
-
Вычисление диапазона измерений и величины случайной погрешности измерений
Дополнительные возможности:
Модуль SUPER – самостоятельное создание пользователем новых измерительных задач.
Модуль PDM – управление существующими и вновь создаваемыми пользователем измерительными задачами.
