Рентгенофлуоресцентные спектрометры - толщиномеры

Helmut Fischer более 50 лет разрабатывает и обеспечивает технологии экстра-класса для определения толщины покрытий, анализа состава материалов и общего тестирования свойств материалов. Продукты линии FISCHERSCOPE X-RAY уже более 25 лет являются технологическими лидерами на рынке. Постоянное совершенствование технических характеристик, закрепленное многочисленными патентами, и улучшение потребительских свойств, позволяют оборудованию FISCHERSCOPE X-RAY всегда быть на шаг впереди.

FISCHERSCOPE X-RAY

Это использование метода энергодисперсионной рентгеновской флуорисценции, соответствующий стандартам ASTM B 568/ISO 3497;

Это высокоточные измерения толщины покрытий в диапазоне 100 нм до 35 мкм;

Это анализ состава материалов от Z=11 (Na) до Z=92 (U);

Это более 20 моделей оборудования – от недорогих стандартных приборов до сложных профессиональных измерительных систем;

Это простое и надежное программное обеспечение WinFTM;

Это профессиональный сервис, основанный на знаниях и практическом опыте.

Модельный ряд FISCHERSCOPE X-RAY >>>

Принцип работы рентгенофлуоресцентного спектрометра-толщиномера >>>

Области применения:

  • Измерение проводников и контактных площадок на печатных платах;
  • Измерение толщин покрытий на выводах электронных компонентов;
  • Утилизация электронных компонентов (RoHS и WEEE);
  • Анализ электролитов;
  • Анализ элементов солнечных батарей;
  • Анализ гальванических и химических покрытий.

Статьи по применению рентген-флуоресцентных приборов FISCHERSCOPE X-RAY >>>

Программное обеспечение:

WinFTM – Fischer Thickness Measurement System for Windows – программное обеспечение самого последнего поколения. Программа обеспечивает высокую степень гибкости и предусматривает свободный выбор режимов при определении способа проведения измерений.

Аккумулируя сложнейшие математические алгоритмы и разносторонний опыт физических исследований, программа может производить оценку многослойных покрытий.

Поставляется в следующих вариантах:

WinFTM V.6 Light позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 3 слоев или элементов.

WinFTM V.6 Basic – позволяет производить анализ и измерять толщину покрытий, состоящих из 1 – 24 слоев или элементов.

Функции WinFTM® V.6

  • Определение толщины покрытий и анализ состава материалов, в одном продукте одновременно
  • Свободные измерения и анализ
  • Максимальное количество отдельных признаков у образца  - 24
  • Отдельные слои могут содержать до 24 элементов
  • Анализ до 24 слоев в одном составном покрытии
  • Повторение отдельных элементов в различных слоях
  • Количественный анализ состава сплавов, составные покрытия до 24 элементов
  • Анализ «внутренних» покрытий и материалов подложек
  • Измерения, не зависящие от материала подложки
  • Прямой анализ, составные покрытия до 24 элементов
  • Отображение значения качества измерений («measurement quality»)
  • Программируемая последовательность измерений («Tasks»)
  • Три режима отображения измерений
  • Стандартная калибровка
  • Идентификация материалов с использованием сравнения спектров
  • Библиотека спектров чистых элементов
  • Графическое представление точки измерения и XY(Z)навигация
  • Установка новых режимов проведения измерений (файл установочных параметров)
  • Анализ растворов как отдельная функция при задании режимов проведения измерений
  • Вычисление диапазона измерений и величины случайной погрешности измерений

Дополнительные возможности:

Модуль SUPER – самостоятельное создание пользователем новых измерительных задач.

Модуль PDM – управление существующими и вновь создаваемыми пользователем измерительными задачами.

У вас есть вопросы? Задайте их нам >>>